HTOL集成电路高温动态老化测试

HTOL（High Temperature Operating Life）HTOL集成电路高温动态老化测试系统作为评估集成电路可靠性的关键环节，模拟芯片在高温、高压下的长期运行状态，以此评估芯片寿命、可靠性与稳定性。本系统专为各类封装形式的大、中、小规模集成电路量身打造，广泛适用于微处理器、逻辑电路等多种器件的工作寿命试验与高温动态老炼筛选。

产品特点

自有发明专利智能动态在线实时监测技术。

方便灵活配置芯片状态、施加信号，提高HTOL debug及Setup效率。

实时监测并记录环境温度，以及每颗芯片电压，电流，寄存器状态等数 据，确保芯片处于正常HTOL状态，保证HTOL 测试质量。

监测数据异常自动报警，实时发现问题并介入分析，大大提高HTOL效率，节省更多时间成本、 FA成本。