产品介绍:
SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷，适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高精度定向仪，实现了缺陷和定向双功能。
产品特点：
缺陷和定向双功能
配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩，确保使用
表格和曲线的形式显示，一目了然
速度快，重复性好
效率高，数据实时处理
技术参数：
测试时间：1-2分钟
重复性精度：±5。
测角精度为±15
最小读数1
典型客户:
台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。
SD-300i晶片表面缺陷测试仪
2025-11-07 10:38 5092次浏览
价 格：
面议
北京合能阳光新能源技术有限公司
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