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EDXTHICK800是天瑞仪器（SKYRAY）推出的一款上照式、全自动、高精度 X 射线荧光（XRF）镀层测厚仪，专为工业精密检测设计，集膜厚测试、成分分析、RoHS 检测于一体，是电镀、电子、珠宝、五金等行业的核心质检设备。
一、核心定位与原理
设备类型：台式能量色散 X 荧光光谱仪（XRF）
测量原理：利用 X 射线激发样品表面，通过分析荧光射线能量与强度，无损计算镀层厚度与元素成分
核心优势：微米级精度、全自动定位、多层同步分析、一机多用
二、核心技术参数
测量元素：成分分析（Al 铝 - U 铀）；镀层分析（Li 锂 - U 铀）
镀层能力：同时分析≥5 层镀层、24 种元素
厚度范围：0.005μm~50μm（超薄至常规镀层）
检测速度：5~40 秒 / 样（常规 10 秒出数）
探测器：Fast-SDD 半导体探测器（分辨率 140±5eV）
X 光源：100W 高功率微聚焦 W 靶光管
准直器：Φ0.1/0.2/0.3mm 等（最小光斑 0.1mm）
样品台：全自动 XYZ 三维平台（X/Y 行程 100mm×100mm）
定位系统：双激光定位 + CCD 视觉（25~200 倍放大）
设计：双重防撞保护（机械 + 激光）
仪器尺寸：485×588×505mm
三、核心功能
多层镀层测厚
同步测金、银、镍、铜、钯、锌等单层 / 多层 / 合金镀层
解决深孔、盲孔、异形件、微小件（如 PCB 端子、连接器）测厚难题
成分与有害元素分析
测金属纯度、合金成分（K 金、铂、钯等）
同步筛查RoHS（铅、汞、镉、六价铬等）
